[TE42-LL UW]
Type : reflective Format : Aspect ratio 4:3, 16:9
TE42-LL UW
TE42-LL(저조도) 차트의 TE42-LL UW(Ultra-Wide) 버전은 테스트 이미지에 존재하는 왜곡으로 인해 정확한 해상도 측정에 어려움을 겪는 광각 카메라용으로 설계되었습니다(초광각 카메라에 일반적임).
이 차트는 왜곡이 있는 경우에도 해상도를 분석할 수 있도록 tartan 타겟을 사용합니다.
이러한 tartan 패턴은, 변화하는 패턴을 사용하는 Siemans Star 패턴과 달리 변하지 않는 주파수 패턴입니다.
결과적으로 왜곡이 존재하는 경우에도 분해능을 보다 정확하게 측정할 수 있습니다.
이 차트는 iQ-Analyzer-X 소프트웨어 버전 1.9.0에서 분석에 사용할 수 있습니다.